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X射线荧光光谱分析用合成标准物质

  • 价格：￥0
  • 编号：GBW07721
  • 形态：固体
  • 基质：岩石
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基本信息 详细信息 量值信息 相关产品
X射线荧光光谱分析用合成标准物质基本信息
分子式
基质 岩石
形态 固体
存储条件 可存放在没有直射光线，温度在26ºC以下的干燥器中。
注意事项 使用前105ºC干燥2小时，置干燥器中冷至室温后使用可用纯净SiO2按比例研磨混合，系列稀释后使用Mn组标准样品最小取样量为20mg。
标准物质量值信息
序号 组分 标准值 不确定度 CAS
1 Rb 7.21 质量分数(10-2) 0.32 7440-17-7
2 Ba 7.76 质量分数(10-6) 0.13 7440-39-3
3 Cr 3.98 质量分数(10-2) 0.06 7440-47-3
4 Yb 1.53 质量分数(10-2) 0.05 7440-64-4
5 Hf 1.54 质量分数(10-2) 0.09 7664-39-3
6 Mo 1.57 质量分数(10-2) 0.03 7439-98-7
7 As 1.21 质量分数(10-2) 0.03 7440-38-2
8 Sn 1.54 质量分数(10-2) 0.04 7440-31-5
9 Pb 12.7 质量分数(10-6) 2.3 7439-92-1
10 Ni 3.6 质量分数(10-6) 2.4 7440-02-0
11 Co 0.87 质量分数(10-6) 0.37 7440-48-4
12 Cu 15.6 质量分数(10-6) 2.9 7440-50-8
13 La 2.67 质量分数(10-6) 0.83 7439-91-0
14 Zr 59.4 质量分数(10-6) 7440-67-7
15 Nd 1.47 质量分数(10-6) 0.92 7440-03-1
16 V 4.9 质量分数(10-6) 7440-62-2
17 Sr 758 质量分数(10-6) 90 7440-24-6
18 Ce 2.9 质量分数(10-6) 0.8 7440-45-1
19 Zn 27.1 质量分数(10-6) 4.5 7440-66-6
20 Y 4.1 质量分数(10-6) 1.6 7440-65-5
21 Ta 4.1 质量分数(10-6) 7440-25-7
22 Bi 3.3 质量分数(10-6) 7440-69-9
23 Ti 101 质量分数(10-6) 7440-32-6
24 Mn 4.6 质量分数(10-6) 2 7439-96-5
25 W 1.9 质量分数(10-6) 7440-33-7
26 Ga 1.1 质量分数(10-6) 0.6 7440-55-3
27 Nb 0.96 质量分数(10-6) 0.26 7440-03-1
28 Cs 38.7 质量分数(10-6) 7440-46-2
29 Ge 0.3 质量分数(10-6) 7440-56-4
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