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X射线荧光光谱分析用合成标准物质

  • 价格：￥0
  • 编号：GBW07722
  • 形态：固体
  • 基质：岩石
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基本信息 详细信息 量值信息 相关产品
X射线荧光光谱分析用合成标准物质基本信息
分子式
基质 岩石
形态 固体
存储条件 可存放在没有直射光线，温度在26ºC以下的干燥器中。
注意事项 使用前105ºC干燥2小时，置干燥器中冷至室温后使用可用纯净SiO2按比例研磨混合，系列稀释后使用Mn组标准样品最小取样量为20mg。
标准物质量值信息
序号 组分 标准值 不确定度 CAS
1 Rb 0.51 质量分数(10-6) 7440-17-7
2 Ba 14.3 质量分数(10-6) 1.1 7440-39-3
3 Cr 6.2 质量分数(10-6) 1.5 7440-47-3
4 Yb 6.7 质量分数(10-6) 4.6 7440-64-4
5 Hf 0.181 质量分数(10-2) 0.018 7664-39-3
6 Mo 1.78 质量分数(10-6) 0.16 7439-98-7
7 As 116 质量分数(10-6) 7440-38-2
8 Sn 0.78 质量分数(10-6) 7440-31-5
9 Pb 3.56 质量分数(10-2) 0.2 7439-92-1
10 Ni 3.84 质量分数(10-2) 0.15 7440-02-0
11 Co 1.59 质量分数(10-2) 0.04 7440-48-4
12 Cu 3.85 质量分数(10-2) 0.17 7440-50-8
13 La 1.47 质量分数(10-9) 0.08 7439-91-0
14 Zr 7.26 质量分数(10-2) 0.22 7440-67-7
15 Nd 1.56 质量分数(10-9) 0.01 7440-03-1
16 V 1.52 质量分数(10-2) 0.06 7440-62-2
17 Sr 4.1 质量分数(10-6) 0.2 7440-24-6
18 Ce 1.4 质量分数(10-6) 0.2 7440-45-1
19 Zn 9.2 质量分数(10-6) 0.2 7440-66-6
20 Y 3.9 质量分数(10-6) 0.2 7440-65-5
21 Ta 2.8 质量分数(10-6) 7440-25-7
22 Bi 7.1 质量分数(10-6) 7440-69-9
23 Ti 124 质量分数(10-6) 0.2 7440-32-6
24 Mn 4.5 质量分数(10-6) 0.2 7439-96-5
25 W 0.23 质量分数(10-6) 7440-33-7
26 Ga 103 质量分数(10-6) 7440-55-3
27 Nb 1.2 质量分数(10-6) 0.2 7440-03-1
28 Cs 0.62 质量分数(10-6) 7440-46-2
29 Ge 44.5 质量分数(10-6) 7440-56-4
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