| 分子式 | |
| 基质 | 硅单晶材料 |
| 形态 | 固体 |
| 存储条件 | 干净通风干燥的地方保存。 |
| 注意事项 | 使用时用镊子取出标准物质片,放置测量样片台上。 |
氮化硅薄膜膜厚标准物质
编号:GBW13961 规格:1片 浓度:52.67
X射线粒度测定用αSiO2标准物质
编号:GBW(E)130015 浓度:4组分
小比表面标准物质
编号:GBW(E)130024 浓度:1.44
硅单晶电阻率标准物质
编号:GBW(E)130060 浓度:5×101
硅单晶电阻率标准物质
编号:GBW(E)130061 浓度:1
硅单晶电阻率标准物质
编号:GBW(E)130064 浓度:50