| 分子式 | |
| 形态 | 固体 |
| 存储条件 | 在洁净环境中室温保存。 |
| 注意事项 | 避免阳光直射,防止撞击使用过程中注意不能用手触摸硅基片,特别是标记用来扫描校准的区域,要用合适的镊子来夹取触控型的探针进行扫描时,应避免使用小探针时加载过大压力而造成划伤例如在半径小于等于1 μm的探针上加载超过0.1mN的压力时会划伤硅片表面。 |
硅单晶电阻率标准物质
编号:GBW13703 浓度:2组分
二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质
编号:GBW13965 规格:1片 浓度:9.92
五氧化二钽膜系列标准物质
编号:GBW(E)130018 浓度:100
掺硼硅单晶片中低电阻率测试标准物质
编号:GBW(E)130025 浓度:(2~4)×102
热值气体标准物质
编号:GBW(E)130099 浓度:7000~42000
二氧化硅膜系列标准物质
编号:GBW(E)130145 浓度:93