| 分子式 | |
| 形态 | 固体 |
| 存储条件 | 贮存在阴凉干燥的室温环境条件下,运输过程中必须保持包装的完整。 |
| 用途 | 物理学与物理化学/光学特性 |
| 注意事项 | 本标准物质在用于检定/校准仪器之前,应通过惰性气体离子溅射清洁样品表面以减少污染物直至碳和氧的1s光电子峰信号高度均低于全谱中最强金属峰高度的2%。 |
硅单晶电阻率标准物质
编号:GBW13704 浓度:2组分
二氧化硅薄膜膜厚标准物质
编号:GBW13959 规格:1片 浓度:57.55
二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质
编号:GBW13970 规格:片 浓度:45.61
X射线衍射仪校正和定量相分析用αSiO2标准物质
编号:GBW(E)130017 浓度:4组分
硅单晶电阻率标准物质
编号:GBW(E)130061 浓度:1
热值气体标准物质
编号:GBW(E)130099 浓度:7000~42000