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编号

名称

CAS号

规格

标准值

分子式

操作
GBW13710

硅单晶扩展电阻标准物质样片

10³～10³

/
GBW13801

无损检测人工标准伤

3组分

/
GBW13901

纳米级氧化铝比表面积标准物质

445.4

/
GBW13902

二氧化硅比表面积孔容和孔径标准物质

3组分

/
GBW13906

纳米级氧化铝比表面积标准物质

359.4

/
GBW13907

纳米级氧化铝比表面积标准物质

515.3

/
GBW13908

纳米孔二氧化硅比表面积孔容和孔径标准物质

4组分

/
GBW13915

纳米二氧化钛比表面积标准物质

19.9

/
GBW13916

纳米二氧化钛比表面积标准物质

103.2

/
GBW13950

纳米台阶高度标准物质

100

/
GBW13951

纳米台阶高度标准物质

200

/
GBW13952

纳米台阶高度标准物质

50

/
GBW13953

纳米台阶高度标准物质

500

/
GBW13954

纳米台阶高度标准物质

1000

/
GBW13955

多层膜膜厚GaAs/AlAs超晶格标准物质

1片

7组分

/
GBW13956

扫描探针显微镜和扫描电子显微镜用一维纳米栅格标准物质

400.5

/
GBW13957

二氧化硅薄膜膜厚标准物质

1片

12.56

/
GBW13958

二氧化硅薄膜膜厚标准物质

1片

20.87

/
GBW13959

二氧化硅薄膜膜厚标准物质

1片

57.55

/
GBW13960

二氧化硅薄膜膜厚标准物质

1片

106.1

/

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